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SEM與TEM的區(qū)別？
透射電鏡（TEM）的放大倍數(shù)要比掃描電鏡（SEM）的高,當(dāng)然兩則的成像原理也是不同的，如果需要觀察納米顆粒在聚合物中的分散情況，你就必須要用TEM來(lái)觀察了，SEM通常看材料的缺口斷面，當(dāng)然還有許多其他應(yīng)用。 SEM是電子束激發(fā)出表面次級(jí)電子,而TEM是穿透試樣,而電子束穿透能力很弱,所以TEM樣品要求很薄,只有幾十nm, TEM一般放大能達(dá)幾百w倍,而SEM只有幾萬(wàn)倍. 掃描電鏡通常用在一些斷口觀察分析,外加一個(gè)能譜儀,可以進(jìn)行能譜掃描.其放大倍數(shù)相對(duì)較低,操作方便,樣品制作簡(jiǎn)單,對(duì)于高聚物,須進(jìn)行噴金處理 TEM則可以觀看樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu),粒子的分散等.其放大倍數(shù)高于SEM,但也不是絕對(duì),現(xiàn)在有些掃描電鏡的放大倍數(shù)也可以很高.其操作較復(fù)雜,樣品制作也較為煩瑣
SEM和TEM都是電子顯微鏡的類(lèi)型，它們的區(qū)別在于成像原理和應(yīng)用范圍。SEM是掃描電子顯微鏡，利用電子束掃描樣品表面，通過(guò)檢測(cè)電子的反射和散射來(lái)獲得樣品表面的形貌和成分信息，適用于表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)的研究。
而TEM是透射電子顯微鏡，利用電子束穿過(guò)樣品，通過(guò)檢測(cè)電子的透射和衍射來(lái)獲得樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和成分信息，適用于材料的晶體結(jié)構(gòu)和納米級(jí)別的結(jié)構(gòu)研究。
一、性質(zhì)不同
1、SEM：根據(jù)用戶(hù)使用搜索引擎的方式利用用戶(hù)檢索信息的機(jī)會(huì)盡可能將營(yíng)銷(xiāo)信息傳遞給目標(biāo)用戶(hù)。
2、TEM：把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。
二、原理不同
1、TEM
（1）吸收像：當(dāng)電子被發(fā)射到高質(zhì)量和高密度的樣品時(shí)，主要的相位形成是散射。當(dāng)樣品的質(zhì)量和厚度較大時(shí)，電子的散射角較大，通過(guò)的電子較小，圖像的亮度較暗。早期透射電子顯微鏡（TEM）就是基于這一原理。
（2）衍射像：電子束被樣品衍射后，樣品不同位置的衍射波振幅分布對(duì)應(yīng)于樣品中晶體各部分的不同衍射能力。當(dāng)出現(xiàn)晶體缺陷時(shí)，缺陷部分的衍射能力與整個(gè)區(qū)域的衍射能力不同，使得衍射波的振幅分布不均勻，反映了晶體缺陷的分布。
2、SEM
（1）用戶(hù)搜索；
（2）返回結(jié)果；
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到此，以上就是小編對(duì)于海外網(wǎng)站加速軟件的問(wèn)題就介紹到這了，希望這2點(diǎn)解答對(duì)大家有用。
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